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二氧化硅的红外光谱测定

发布时间:2024-08-01 17:19:29浏览:190

       在电力、煤炭等行业生产环境中,粉尘中游离二氧化硅含量较高,粉尘的分散度也比较 高,即多为呼吸性粉尘,因此对作业人员的危害较大,主要包括鼻炎、咽炎、气管炎、支气 管炎等呼吸系统疾病。因此,加强对粉尘中游离二氧化硅含量的检测是一件非常重要和紧迫 的工作。以往检测均采用“焦磷酸重量法”,该方法存在操作步骤复杂、使用试剂种类繁多、 检测周期长、准确性差、试验室条件要求苛刻等一系列问题,难以满足现场批量检测的要求。 为了提高检测的准确性,实现批量检测的目的,二氧化硅的红外光谱测定,可选用 FTIR650 型傅立叶变换红外光谱仪来检测粉尘中游离二氧化硅含量。

检测原理:

α-石英在红外光谱中于 12.5μm(800cm-1)、12.8μm(780cm-1)及 14.4(694cm-1) μm 处出现特异性强的吸收带,在一定范围内,其吸光度值与α-石英质量成线性关系。通过 测量吸光度,进行定量测定。

检测仪器及前处理装置: 

检测仪器:傅立叶变换红外光谱仪 

前处理装置:粉末压片机、压片模具、玛瑙研钵、制样粉末(光谱纯)、红外烘干箱

制样准备: 

1. 瓷坩埚和坩埚钳; 

2. 箱式电阻炉或低温灰化炉; 

3. 十万分之一天平; 

4. 200 目过滤筛; 

5. 滤纸、称量纸 若干; 

6. 无水乙醇; 

7. 手套、脱脂棉、小药勺、玻璃取样瓶; 

8. 游离二氧化硅标准品(纯度高于 95%); 

9. 采集的粉尘样品。样品的采集:根据测定目的,样品的采集方法参见 GBZ 159 和 GBZ/T 192.2 或 GBZ/T 192.1,滤膜上采集的粉尘量大于 0.1mg 时,可直接用于本法测定游离二 氧化硅含量。

测定: 

1、样品处理 准确称量采有粉尘的滤膜上粉尘的质量(G)。然后将受尘面向内对折 3 次,放在瓷坩埚 内,置于低温灰化炉或电阻炉(小于 600℃)内灰化,冷却后,放入干燥器内待用。称取 250mg 制样粉末和灰化后的粉尘样品一起放入玛瑙乳钵中研磨混匀后,连同压片模具一起 放入干燥箱(110℃±5℃)中 10min。将干燥后的混合样品置于压片模具中,加压 25MPa, 持续 3min,制备出的锭片作为测定样品。同时,取空白滤膜一张,同样处理,作为空白对 照样品。

2、石英标准曲线的绘制 精确称取不同质量的标准α-石英尘(0.01mg ~1.00mg),分别加入 250mg 制样粉末,置 于玛瑙乳钵中充分研磨均匀,按上述样品制备方法做出透明的锭片。将不同质量的标准石英 锭片置于样品室光路中进行扫描,红外软件以 X 轴横坐标记录 1000cm-1~600cm-1 的谱 图,在 900cm-1 处校正零点和 100%,以 Y 轴纵坐标表示吸光度。 以 800cm-1、780cm-1 及 694cm-1 三处的吸光度值为纵坐标,以石英质量(mg)为横 坐标,绘制三条不同波长的α-石英标准曲线,并求出标准曲线的回归方程式。在无干扰的情 况下,一般选用 800 cm-1 标准曲线进行定量分析。

3、样品测定 分别将样品锭片与空白对照样品锭片置于样品室光路中进行扫描,记录 800cm-1(或 694cm-1)处的吸光度值,重复扫描测定 3 次,测定样品的吸光度均值减去空白对照样品 的吸光度均值后,由α-石英标准曲线得样品中游离二氧化硅的质量(m)。

计算: 

按公式计算粉尘中游离二氧化硅的含量:SiO2(F)= m/G× 100 公式中: SiO2(F)——粉尘中游离二氧化硅(α-石英)的含量,%; m ——测得的粉尘样品中游离二氧化硅的质量,mg; G ——粉尘样品质量,mg

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